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內(nèi)容簡介

RFID技術(shù)是電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)和通信技術(shù)等多個(gè)學(xué)科的交叉學(xué)科。本書正是基于多年的RFID研發(fā)和工程經(jīng)驗(yàn)，在概要介紹原理的基礎(chǔ)上對關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行詳細(xì)介紹，列舉大量設(shè)計(jì)和測試實(shí)例，并通過豐富的圖片讓讀者直觀了解RFID研發(fā)和生產(chǎn)過程中的關(guān)鍵技術(shù)和設(shè)備。 本書內(nèi)容豐富、翔實(shí)。通過本書，讀者可以對當(dāng)前RFID產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)過程中的關(guān)鍵技術(shù)有一個(gè)全面的了解。同時(shí)，本書對正在研發(fā)和設(shè)計(jì)RFID系統(tǒng)的專業(yè)人員、企業(yè)決策和技術(shù)管理人員具有很高的參考價(jià)值。

目錄
封面
扉頁
版權(quán)頁
內(nèi)容簡介
前言
目錄
第1章 緒論
    1.1 RFID技術(shù)的發(fā)展
        1.1.1 RFID的發(fā)展歷史
        1.1.2 RFID技術(shù)在國內(nèi)外的發(fā)展現(xiàn)狀
    1.2 RFID的應(yīng)用和展望
        1.2.1 不同頻率RFID技術(shù)的應(yīng)用
        1.2.2 RFID技術(shù)在不同行業(yè)中的應(yīng)用
        1.2.3 RFID技術(shù)現(xiàn)存的問題
    1.3 RFID系統(tǒng)及組成原理
        1.3.1 RFID系統(tǒng)的基本組成
        1.3.2 RFID系統(tǒng)的射頻工作原理
    1.4 本書內(nèi)容安排
第2章 RFID協(xié)議與標(biāo)準(zhǔn)
    2.1 RFID協(xié)議與標(biāo)準(zhǔn)體系簡介
        2.1.1 RFID標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀
        2.1.2 常用RFID國際標(biāo)準(zhǔn)（ISO）簡介
        2.1.3 EPC標(biāo)準(zhǔn)簡介
        2.1.4 UID標(biāo)準(zhǔn)簡介
        2.1.5 我國RFID標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展
    2.2 企業(yè)RFID知識(shí)產(chǎn)權(quán)戰(zhàn)略
        2.2.1 RFID知識(shí)產(chǎn)權(quán)的重要性
        2.2.2 企業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)戰(zhàn)略
第3章 RFID研發(fā)關(guān)鍵技術(shù)
    3.1 RFID編碼
        3.1.1 條形碼簡介
        3.1.2 RFID編碼規(guī)則
        3.1.3 條形碼和RFID編碼的轉(zhuǎn)換
        3.1.4 我國RFID編碼現(xiàn)狀
    3.2 終端關(guān)鍵技術(shù)
        3.2.1 射頻天線
        3.2.2 DSP
        3.2.3 接口及實(shí)例
    3.3 反碰撞算法和FPGA仿真
        3.3.1 反碰撞算法的原理
        3.3.2 RFID技術(shù)中的反碰撞算法
        3.3.3 FPGA簡介
        3.3.4 RFID反碰撞算法設(shè)計(jì)實(shí)例
        3.3.5 RFID反碰撞算法的FPGA仿真及分析實(shí)例
        3.3.6 小結(jié)
第4章 RFID生產(chǎn)關(guān)鍵技術(shù)
    4.1 標(biāo)簽生產(chǎn)
        4.1.1 概述
        4.1.2 芯片設(shè)計(jì)
        4.1.3 COS簡介
        4.1.4 芯片制造和掩膜
        4.1.5 天線設(shè)計(jì)
        4.1.6 天線制造工藝
        4.1.7 天線與芯片的封裝
        4.1.8 外封裝
        4.1.9 初始化
        4.1.10 個(gè)人化
        4.1.11 生產(chǎn)過程中的測試
    4.2 機(jī)具生產(chǎn)
第5章 RFID實(shí)驗(yàn)室及測試
    5.1 一般測試實(shí)驗(yàn)室
    5.2 微波暗室
        5.2.1 微波暗室簡介
        5.2.2 性能指標(biāo)
        5.2.3 暗室設(shè)備
        5.2.4 測試系統(tǒng)
    5.3 應(yīng)用測試實(shí)驗(yàn)室
    5.4 RFID測試內(nèi)容
        5.4.1 讀寫器的測試
        5.4.2 有源標(biāo)簽的測試
        5.4.3 應(yīng)用測試
附錄A RFID空中接口標(biāo)準(zhǔn)研究與專利授權(quán)現(xiàn)狀
參考文獻(xiàn)