歡迎使用 PNA 系列微波網(wǎng)絡(luò)分析儀測量無源和有源器件。PNA 系列是業(yè)界最高性能的微波網(wǎng)絡(luò)分析儀，PNA-X 系列微波網(wǎng)絡(luò)分析儀是全球最先進(jìn)和靈活的單次連接微波測試引擎。

X 參數(shù)*、P2D 和 S2D 模型測試可對有源器件的非線性行為進(jìn)行表征應(yīng)用指南 1408-22（12 頁）
摘要：所有有源器件都會隨溫度的變化而顯示出非線性特性。研究和設(shè)計高性能、有源射頻器件時，關(guān)鍵是對這一特性進(jìn)行表征，以便在設(shè)計過程中對其加以利用和使用。本應(yīng)用指南介紹三種不同的測量和建模技術(shù)，以用于捕獲 PA（更傳統(tǒng)的 S2D 和 P2D 模型及最新的 X 參數(shù)模型）中的非線性行為。

閱讀 2011 年 5 月刊《Microwave Journal》雜志中的：Keysight PNA-X NVNA 應(yīng)用軟件和功率放大器設(shè)計的 X 參數(shù)功能白皮書（16 頁）
摘要：最近對半導(dǎo)體技術(shù)的改進(jìn)允許研究人員開發(fā)高性能微波電路和系統(tǒng)。在非線性區(qū)域工作并適當(dāng)?shù)剡M(jìn)行負(fù)載端接時，這些器件可構(gòu)成高效的功率放大器。這類開發(fā)需要對射頻晶體管進(jìn)行精確的非線性表征和建模。這個免費的白皮書介紹工程師如何使用 PNA-X NVNA 和 X 參數(shù)開發(fā)新一代功率放大器。

腳注：* X 參數(shù)是是德科技有限公司的注冊商標(biāo)。X 參數(shù)格式和基礎(chǔ)方程是公開的并存檔。

使用 PNA-X 在脈沖工作狀態(tài)時進(jìn)行有源器件表征應(yīng)用指南 1408-21（42 頁）
摘要：本應(yīng)用指南討論使用 PNA-X 系列進(jìn)行脈沖 S 參數(shù)測量，并介紹可對與功率有關(guān)的有源器件進(jìn)行表征的測量技術(shù)，包括壓縮和失真。本文概述了脈沖射頻測量類型，及兩種檢測技術(shù)（寬帶和窄帶檢測），尤其是使用 PNA-X 架構(gòu)和方法。

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