| 資料語言： | 簡體中文 |
| 資料類別： | PDF文檔 |
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| 更新時間： | 2014-08-18 14:43:01 |
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噪聲系數 (NF) 測量是在制造業研發和流程驗證中進行器件表征的關鍵環節。進行精確的晶圓噪聲系數測量可能并不簡單，要想得到良好的測量結果，這取決于所采用的測量方法和測試配置。
噪聲系數測量一般使用兩種方法 : Y 因子方法和冷源法。Y 因子 ( 或熱 / 冷源 ) 測量法是兩者中的主導方法，大多數情況下通過噪聲系數分析儀和基于頻譜分析儀的解決方案來實現。相比之下，冷源測量法一般通過矢量網絡分析儀 (VNA) 實現，分析儀提供幅度和相位信息。因此，冷源技術能夠獲得更高的噪聲系數測量精度。
本應用指南講解了基于 AgilentPNA-X 微波網絡分析儀的冷源測量解決方案。PNA-X 裝有信號源校正噪聲系數測量選件 ( 選件 029)，提供一流的精度。新硬件支持高達 50 GHz 的測量。在 50 GHz 至 67 GHz 頻率范圍內進行測量時，需要使用額外的外部硬件。PNA-X 還能夠縮短測量時間 : 它通過與被測器件 (DUT) 進行單次連接來執行多種測量，例如噪聲系數、S參數、增益壓縮和互調失真 (IMD)。
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