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介質諧振器法測量高溫超導薄膜微波表面電阻的誤差分析

2013-03-14 我要評論(0) 字號:
資料語言: 簡體中文
資料類別: PDF文檔
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更新時間: 2013-03-14 09:44:23
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資料簡介

物理學報  2001, Vol. 50  Issue (5): 938-941

李宏成1, 王瑞蘭1, 魏斌2
(1)中國科學院物理研究所超導國家實驗室,北京100080; (2)中國科學院物理研究所超導國家實驗室,北京100080;清華大學物理系在讀博士研究生
ERROR ANALYSIS FOR MEASUREMENTS OF MICROWAVE SURFACE RESISTANCE OF HIGH-TEMPERATURE SUPERCONDUCTORS BY DIELECTRIC RESONATOR METHOD 
LI HONG-CHENG1, WANG RUI-LAN1, WEI BIN2

摘要: 用微擾法研究了兩端接地型藍寶石介質諧振器測量高溫超導薄膜微波表面電阻RS的誤差與幾何結構和工作頻率的關系.結果表明,介質柱直徑與高度之比2a/L,金屬屏蔽腔內半徑與介質柱半徑之比b/a以及工作頻率f對測量誤差和最小可測表面電阻Rsmin有很大影響.所得到的曲線可用于藍寶石介質諧振器的設計中.結果還表明,適當選取2a/L,b/a與f可使測量誤差接近于1%,最小可測表面電阻Rsmin可達到微歐姆的數量級.這對于高溫超導薄膜的檢測和微波器件應用說

引用本文:   
李宏成,王瑞蘭,魏斌. 介質諧振器法測量高溫超導薄膜微波表面電阻的誤差分析. 物理學報, 2001, 50(5): 941. 
Cite this article:   
LI HONG-CHENG,WANG RUI-LAN,WEI BIN. ERROR ANALYSIS FOR MEASUREMENTS OF MICROWAVE SURFACE RESISTANCE OF HIGH-TEMPERATURE SUPERCONDUCTORS BY DIELECTRIC RESONATOR METHOD . Acta Phys. Sin., 2001, 50(5): 938-941. 

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